【重要】T2R2・STARSearchの停止と後継システムについて
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タイトル
和文:
超音波を用いた材料裏面の粗さ評価に及ぼす入射角と周波数の影響
英文:
著者
和文:
桑村尚樹
,
黒川悠
,
井上裕嗣
.
英文:
Naoki Kuwamura
,
Yu Kurokawa
,
Hirotsugu Inoue
.
言語
Japanese
掲載誌/書名
和文:
英文:
巻, 号, ページ
No. 17-5 pp. 162-166
出版年月
2017年10月6日
出版者
和文:
英文:
会議名称
和文:
M&M2017材料力学カンファレンス
英文:
開催地
和文:
札幌市
英文:
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