Characterization of dislocation microstructures in cyclically deformed [001] copper single crystals using high voltage scanning transmission electron microscopy

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Characterization of dislocation microstructures in cyclically deformed [001] copper single crystals using high voltage scanning transmission electron microscopy

著者

和文:	藤居俊之, 鍛冶田貴大, 宮澤知孝, 荒井重勇.
英文:	Toshiyuki Fujii, Takahiro Kajita, Tomotaka Miyazawa, Shigeo Arai.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Materials Characterization

巻, 号, ページ

Vol. 136 pp. 206-211

出版年月

2017年12月15日

出版者

和文:
英文:	ELSEVIER

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
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DOI