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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:A resistive switching device based on breakdown and anodic reoxidization of thin SiO2 on Si-based Electrodes using CeOx buffer layer 
著者
和文: Mokhammad Sholihul Hadi, 叶 真一, 角嶋 邦之, 片岡 好則, 西山 彰, 杉井 信之, 若林 整, 筒井 一生, 名取 研二, 岩井 洋.  
英文: "Mokh Hadi", "Shinichi Kano", "Kuniyuki Kakushima", "Yoshinori Kataoka", "Akira Nishiyama", "Nobuyuki Sugii", "Hitoshi Wakabayashi", "Kazuo Tsutsui", "Kenji Natori", "Hiroshi Iwai".  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Semiconductor Science and Technology 
巻, 号, ページ Vol. 29    No. 11   
出版年月 2014年10月 
出版者
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会議名称
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開催地
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