Interfacial Dipole Measurement of Dielectric/Silicon Interface by X-ray Photoelectron Spectroscopy

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Interfacial Dipole Measurement of Dielectric/Silicon Interface by X-ray Photoelectron Spectroscopy

著者

和文:	角嶋邦之, 岡本巧馬, 舘喜一, 清水智, Jin Jisong, 川那子高暢, AHMET PARHAT, 杉井信之, 筒井一生, 服部健雄, 岩井洋.
英文:	K. Kakushima, K. Okamoto, K. Tachi, S. Sato, J. Song, T. Kawanago, P. Ahmet, N. Sugii, K. Tsutsui, T. Hattori, H. Iwai.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2008年10月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	214th ECS Meeting (PRiME 2008)

開催地

和文:
英文:	Hawaii