Barkhausen Noise Analysis of Thin Film Ferroelectrics

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Barkhausen Noise Analysis of Thin Film Ferroelectrics

著者

和文:	矢澤慶祐, Benjamin Ducharne, 内田寛, 舟窪浩, John E. Blendell.
英文:	Keisuke Yazawa, Benjamin Ducharne, Hiroshi Uchida, Hiroshi Funakubo, John E. Blendell.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Appl. Phys. Lett.

巻, 号, ページ

Vol. 117 pp. 012902-1-4

出版年月

2020年6月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文:

DOI