Solid-state beam scanner based on VCSEL integrated amplifier with scan resolution of over 200

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Solid-state beam scanner based on VCSEL integrated amplifier with scan resolution of over 200

著者

和文:	Hu Shanting, 鷹箸雅司, 顧暁冬, 志村京亮, 小山二三夫.
英文:	Shanting Hu, Masashi Takanohashi, Xiaodong Gu, Keisuke Shimura, Fumio Koyama.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

SM2M.2

出版年月

2020年5月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	2020 Conference on Lasers and Electro-Optics

開催地

和文:
英文:	San Jose