収差補正走査透過電子顕微鏡解析を用いたInGaN量子井戸の微細構造と発光効率低下に関する研究

論文・著書情報

タイトル

和文:	収差補正走査透過電子顕微鏡解析を用いたInGaN量子井戸の微細構造と発光効率低下に関する研究
英文:	Study of Nanostructure and Luminescence Degradation of InGaN Quantum Wells by Aberration-corrected Scanning Transmission Electron Microscopy

著者

和文:	丹下貴志.
英文:	Takashi Tange.

種別

種別:	学位論文(博士)
国名:	日本

言語

Japanese

学位授与組織

東京工業大学

報告番号

甲第11949号

学位授与日

2021/03/26

審査員

三宮工, 尾中晋, 吉本護, 舟窪浩, 和田裕之.

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