Reliability analysis of electronic device by using synchrotron X-ray nano-CT : Microstructural evolution of electrodes of MLCC

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Reliability analysis of electronic device by using synchrotron X-ray nano-CT : Microstructural evolution of electrodes of MLCC

著者

和文:	大熊学, 斉藤直哉, Kotaro Mizuno, 若井史博.
英文:	Gaku Okuma, Naoya Saito, Kotaro Mizuno, Fumihiro Wakai.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2021年7月6日

出版者

和文:
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会議名称

和文:
英文:	International Conference on the Science and Technology for Advanced Ceramics (STAC-12)

開催地

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