高周波反射測定を用いたnMOSシリコン量子ドットの電荷ノイズ評価

論文・著書情報

タイトル

和文:	高周波反射測定を用いたnMOSシリコン量子ドットの電荷ノイズ評価
英文:

著者

和文:	荒川雄登, 中越一真, 松岡竜太郎, 土屋龍太, 峰利之, 久本大, 水野弘之, 溝口来成, 米田淳, 小寺哲夫.
英文:	Yuto Arakawa, Kazuma Nakagoe, Ryutaro Matsuoka, 土屋龍太, 峰利之, 久本大, 水野弘之, Raisei Mizokuchi, Jun Yoneda, Tetsuo Kodera.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2023年3月15日

出版者

和文:
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会議名称

和文:	第70回応用物理学会春季学術講演会
英文:

開催地

和文:	東京
英文: