Influence of External Circuits on Filamentary Current Flow During Impurity Breakdown in n-type GaAs

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Influence of External Circuits on Filamentary Current Flow During Impurity Breakdown in n-type GaAs

著者

和文:	國弘和明, Michael Gaa, Eckehard Schoell.
英文:	Kazuaki Kunihiro, Michael Gaa, Eckehard Schoell.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Electronics Letters

巻, 号, ページ

Vol. 33 No. 14 pp. 1261-1262

出版年月

1997年

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文: