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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:A large-signal equivalent circuit model for substrate-induced drain-lag phenomena in HJFETs 
著者
和文: 國弘 和明, Y. Ohno.  
英文: K. Kunihiro, Y. Ohno.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:IEEE Transactions on Electron Devices 
巻, 号, ページ Vol. 43    No. 9    pp. 1336-1342
出版年月 1996年9月 
出版者
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会議名称
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開催地
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英文: 

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