Numerical analysis of kink effect in HJFET with a heterobuffer layer

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Numerical analysis of kink effect in HJFET with a heterobuffer layer

著者

和文:	國弘和明, H. Yano, N. Goto, Y. Ohno.
英文:	K. Kunihiro, H. Yano, N. Goto, Y. Ohno.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	IEEE Transactions on Electron Devices

巻, 号, ページ

Vol. 40 No. 3 pp. 493-497

出版年月

1993年9月

出版者

和文:
英文:

会議名称

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開催地

和文:
英文: