Atomic Scale and Electronic Structure Characterization of Amorphous Tantalum Oxide Thin Films via Synchrotron X-ray Techniques

論文・著書情報

タイトル

和文:	Atomic Scale and Electronic Structure Characterization of Amorphous Tantalum Oxide Thin Films via Synchrotron X-ray Techniques
英文:	Atomic Scale and Electronic Structure Characterization of Amorphous Tantalum Oxide Thin Films via Synchrotron X-ray Techniques

著者

和文:	Loku Singgappulige Rosantha Kumara, Sakura Yoshikawa, Atsushi Shimizu, Linwei Li, Takayoshi Katase, Seo Okkyun, Takeshi Watanabe, Masugu Sato, Osami Sakata, Atsushi Fukuchi, Toshio Kamiya.
英文:	Loku Singgappulige Rosantha Kumara, Sakura Yoshikawa, Atsushi Shimizu, Linwei Li, Takayoshi Katase, Seo Okkyun, Takeshi Watanabe, Masugu Sato, Osami Sakata, Atsushi Fukuchi, Toshio Kamiya.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
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巻, 号, ページ

出版年月

2024年12月1日

出版者

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会議名称

和文:	AsCA2024
英文:	AsCA2024

開催地

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