Home >

news ヘルプ

論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Study of interface trap density in Ge quantum devices 
著者
和文: Wen Chutian, 荒川雄登, 松岡 竜太郎, 溝口 来成, 米田 淳, 小寺 哲夫.  
英文: Chutian Wen, Yuto Arakawa, Ryutaro Matsuoka, Raisei Mizokuchi, Jun Yoneda, Tetsuo Kodera.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ        
出版年月 2025年3月14日 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文:第72回応用物理学会春季学術講演会 
英文: 
開催地
和文:千葉県 
英文: 

©2007 Institute of Science Tokyo All rights reserved.