Cryogenic Characterization of Commercial Heterojunction Bipolar Transistors as Current Amplifiers Toward Semiconductor Spin Qubit Readout

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Cryogenic Characterization of Commercial Heterojunction Bipolar Transistors as Current Amplifiers Toward Semiconductor Spin Qubit Readout

著者

和文:	太田俊輔, 福田毅, 利光孝文, 溝口来成, 小寺哲夫.
英文:	Shunsuke Ota, Takeshi Fukuda, Takafumi Toshimitsu, Raisei Mizokuchi, Tetsuo Kodera.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2026年12月14日

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	1st International Workshop on Industrial-grade Ge Quantum Technology (InGeQT workshop 2025)

開催地

和文:
英文:	Osaka