論文

• Yuya Ono, Takuichi Hirano, Kenichi Okada, Jiro Hirokawa, Makoto Ando. Eigenmode Analysis of Propagation Constant for a Microstrip Line with Dummy Metals on a Si CMOS Substrate, IEICE Transactions on Electronics, IEICE, Vol. E94-C, No. 6, June 2011.

国際会議発表 (査読有り)

• Yuya Ono, Takuichi Hirano, Kenichi Okada, Jiro Hirokawa, Makoto Ando. Eigenmode Analysis of Propagation Constant for a Transmission Line with Dummy Metals on a Si CMOS Substrate, International Symposium on Antennas and Propagation, Proceedings of International Symposium on Antennas and Propagation, Nov. 2010.

国内会議発表 (査読なし・不明)

• 小野 雄也, 平野 拓一, 岡田 健一, 廣川 二郎, 安藤 真. ダミーメタル面積占有率による伝搬損失への影響の評価, 電子情報通信学会 総合大会, 電子情報通信学会総合大会講演論文集, Mar. 2011.
• 小野雄也, 平野拓一, 岡田健一, 廣川二郎, 安藤真. Si CMOS基板上ダミーメタル入り伝送線路の伝搬定数の固有値解析, 電子情報通信学会技術研究報告, 電子情報通信学会, pp. 89-93, Sept. 2010.
• 小野雄也, 平野拓一, 岡田健一, 廣川二郎, 安藤 真. Si-CMOS基板上ダミーメタル入り伝送線路特性の固有値解析と測定, 電子情報通信学会ソサイエティ大会, 電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集,, Sept. 2010.
• 小野雄也, 平野拓一, 岡田健一, 廣川二郎, 安藤真. ダミーメタル入り伝送線路の伝搬定数の固有値解析, 電子情報通信学会総合大会, 電子情報通信学会総合大会講演論文集, 電子情報通信学会, Mar. 2010.
• 小野 雄也, 平野 拓一, 岡田 健一, 廣川 二郎, 安藤 真. ダミーメタル入り伝送線路のユニットセルの固有値解析による伝搬定数の計算, シリコンアナログRF研究会, Nov. 2009.

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