論文

• Taishi Haga, Yoshitaka Fujimoto, Susumu Saito. Electronic structure and scanning tunneling microscopy images of heterostructures consisting of graphene and carbon-doped hexagonal boron nitride layers, Physical Review B, 100, 125403, Sept. 2019.
• Taishi Haga, Yoshitaka Fujimoto, Susumu Saito. STM visualization of carbon impurities in sandwich structures consisting of hexagonal boron nitride and graphene, Japanese Journal of Applied Physics, 58, SIIB03, June 2019.
• Y. Fujimoto, S. Saito. Effects of gas adsorption on the stabilities, electronic structures, and scanning tunneling microscopy of graphene monolayers doped with B or N, Japanese Journal of Applied Physics (Spotlight paper), Vol. 58, 015005, 2019.

国際会議発表 (査読有り)

• Yoshitaka Fujimoto, Susumu Saito. Molecular adsorption and electronic properties of doped graphene for sensing applications, MATERIALS RESEARCH MEETING 2019, Dec. 2019.
• Susumu Saito, Yoshitaka Fujimoto. Modulation doping in hexagonal BN atomic-layer semiconductor, American Physical Society March Meeting, Mar. 2019.

国内会議発表 (査読有り)

• Hiroki Yamashita, Taishi Haga, Yoshitaka Fujimoto, Susumu Saito. New Method for First-principles Electronic-structure Study of Impurity Induced States and its Application to Diamond and Cubic BN, MATERIALS RESEARCH MEETING 2019, Dec. 2019.
• 齋藤晋, 芳賀太史, 藤本義隆. h-BN膜におけるドナーとアクセプターのイオン化エネルギーの高精度推定, 第３３回ダイヤモンドシンポジウムプログラム, Nov. 2019.
• 齋藤晋, 山下寛樹, 芳賀太史, 藤本義隆. 密度汎関数理論に基づく不純物状態の新たな高精度計算手法とダイヤモンドおよび立方晶窒化ホウ素に対する応用, 第３３回ダイヤモンドシンポジウムプログラム, Nov. 2019.
• 齋藤晋, 芳賀 太史, 松浦 雄⽃, 藤本 義隆. 複数層h-BN原⼦膜における電⼦構造と不純物状態, 日本物理学会2019年秋季大会, Sept. 2019.
• Yoshitaka Fujimoto, Susumu Saito. Molecular adsorption and electronic properties of doped graphene, STAC11, July 2019.
• Taishi Haga, Yoshitaka Fujimoto, Susumu Saito. STM images of graphene/C-doped h-BN heterostructures from first-principles electronic-structure calculations, 第５６回フラーレン・ナノチューブ・グラフェン総合シンポジウム, Mar. 2019.
• 齋藤晋, 山下 寛樹, 芳賀 太史, 藤本 義隆. 第一原理電子構造研究による立方晶窒化ホウ素とダイヤモンドの不純物状態の予測, 第６６回応用物理学会春季学術講演会, Mar. 2019.
• 齋藤晋, 藤本義隆, 山下寛樹, 芳賀太史. 半導体中の不純物状態の新たな定量的予測方法, 日本物理学会第74回年次大会, Mar. 2019.

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