国内会議発表 (査読なし・不明)

• 中川 亮汰, 酒井 淳, 山崎 公晴, 加藤 弘一, 原田 祥宏, 伏信 一慶, 兒玉 学. X線全散乱を用いた印刷用紙ナノスケール3次元構造の低コスト高速計測, 日本画像学会年次大会, June 2026.
• 中川 亮汰, 酒井 淳, 山崎 公晴, 加藤 弘一, 原田 祥宏, 伏信 一慶, 兒玉 学. X線全散乱を用いた印刷用紙3 次元構造の低コスト・高速計測の実証, 第29回複雑流体研究会, June 2026.
• 大野 紘夢, 中川 亮汰, 兒玉 学. 超小型・超小角X 線散乱装置によるナノスケール構造計測, 第29回複雑流体研究会, June 2026.

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