Journal Paper

• Shiota, D., Tadokoro, Y., Noda, K., Shida, M., Masaaki Fujii. Development of low reflectivity and high resolution negative-tone photoresist, Journal of Photopolymer Science and Technology, Vol. 24, No. 4, pp. 397-400, 2011.
• Shiota, D., Tadokoro, Y., Noda, K., Shida, M., Masaaki Fujii. Photopolymerization analysis by isomerization for oxime derivatives, Journal of Photopolymer Science and Technology, Vol. 24, No. 6, pp. 625-629, 2011.
• Schmies, M., Patzer, A., Masaaki Fujii, Dopfer, O.. Structures and IR/UV spectra of neutral and ionic phenol-Arncluster isomers (n ≤ 4): Competition between hydrogen bonding and stacking, Physical Chemistry Chemical Physics, Vol. 13, No. 31, pp. 13926-13941, 2011.
• Armentano, A., Tong, X., Riese, M., Pimblott, S.M., Müller-Dethlefs, K., Masaaki Fujii, Dopfer, O.. Mass analyzed threshold ionization spectra of phenol…Ar2: Ionization energy and cation intermolecular vibrational frequencies, Physical Chemistry Chemical Physics, Vol. 13, No. 13, pp. 6071-6076, 2011.
• Yamada, H., Misawa, K., Suzuki, D., Tanaka, K., Matsumoto, J., Masaaki Fujii, Tanaka, K.. Detailed analysis of diesel vehicle exhaust emissions: Nitrogen oxides, hydrocarbons and particulate size distributions, Proceedings of the Combustion Institute, Vol. 33, No. 2, pp. 2895-2902, 2011.

Other Publication

• Masaaki Fujii, 坂本 哲夫. 収束イオンビームとレーザーイオン化法を用いた環境汚染微粒子の履歴解析, 光学, 応用物理学会分科会日本光学会, Vol. 40, No. 5, pp. 232-234, May 2011.
• Masaaki Fujii, 宮崎 充彦, 斎川 次郎, 石月 秀貴, 平等 拓範. 高出力赤外波長可変レーザーの分子計測への応用, 電気学会研究会資料. OQD, 光・量子デバイス研究会, Vol. 2011, No. 18, pp. 7-8, Mar. 2011.

Patent

• Masaaki Fujii. イオンビーム照射位置決め装置. Patent. Published. 国立大学法人東京工業大学, 学校法人工学院大学, 株式会社トヤマ. 2010/04/23. 特願2010-099870. 2011/11/17. 特開2011-233249. 2011.
• Masaaki Fujii. レーザイオン化質量分析装置. Patent. Published. 国立大学法人東京工業大学, 学校法人工学院大学. 2010/04/23. 特願2010-099869. 2011/11/17. 特開2011-233248. 2011.
• Masaaki Fujii, Shun-ichi Ishiuchi. 真空紫外光発生装置. Patent. Published. 国立大学法人東京工業大学. 2010/03/25. 特願2010-070306. 2011/10/13. 特開2011-204882. 2011.
• Masaaki Fujii, Shun-ichi Ishiuchi. 集束イオンビームを用いる微細部位解析装置. Patent. Registered. 国立大学法人東京工業大学, 新日本製鐵株式会社. 2006/08/03. 特願2006-212399. 2008/02/21. 特開2008-039521. 特許第4785193号. 2011/07/22 2011.
• Masaaki Fujii, Shun-ichi Ishiuchi. イオン化分析装置及びイオン化分析方法. Patent. Registered. 国立大学法人東京工業大学, 新日本製鐵株式会社. 2006/06/09. 特願2006-161691. 2007/12/20. 特開2007-327929. 特許第4761378号. 2011/06/17 2011.

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