論文

• Fumihiro Wakai, Gaku Okuma, Robert Mücke, Olivier Guillon. Modelling of elimination of strength-limiting defects by pressure-assisted sintering at low stress levels, Journal of the European Ceramic Society, Vol. 41, No. 16, pp. 202-210, Dec. 2021.
• Gaku Okuma, Ryo Miyaki, Kan Shinobe, Anna Sciazko, Takaaki Shimura, Zilin Yan, Shotaro Hara, Toshinori Ogashiwa, Naoki Shikazono, Fumihiro Wakai. Anisotropic microstructural evolution and coarsening in free sintering and constrained sintering of metal film by using FIB-SEM tomography, Acta Materialia, Vol. 215, 117087, Aug. 2021.
• Kei Maeda, Kosho Akatsuka, Gaku Okuma, Atsuo Yasumori. Mechanical Properties of CaO–Al2O3–SiO2 Glass-Ceramics Precipitating Hexagonal CaAl2Si2O8 Crystals, Crystals, Vol. 11, No. 393, Apr. 2021.
• Gaku Okuma, Naoya Saito, Kotaro Mizuno, Yoshiki Iwazaki, Hiroshi Kishi, Akihisa Takeuchi, Masayuki Uesugi, Fumihiro Wakai. Microstructural evolution of electrodes in sintering of multi-layer ceramic capacitors (MLCC) observed by synchrotron X-ray nano-CT, Acta Materialia, Elsevier, Vol. 206, 116605, Mar. 2021.

国際会議発表 (査読有り)

• Gaku Okuma, Naoya Saito, Kotaro Mizuno, Fumihiro Wakai. Reliability analysis of electronic device by using synchrotron X-ray nano-CT : Microstructural evolution of electrodes of MLCC, International Conference on the Science and Technology for Advanced Ceramics (STAC-12), July 2021.

国内会議発表 (査読なし・不明)

• 大熊 学. 高信頼性材料設計のための放射光X線CT 3次元マルチスケール解析, セラミック材料研究会2021, Dec. 2021.
• 大熊 学, 斎藤 直哉, 水野 高太郎, 若井 史博. 放射光X線ナノCTによる電子デバイスの信頼性解析： MLCCの電極構造形成プロセス, 日本機械学会第 29 回機械材料・材料加工技術講演会(M&P2021), 一般社団法人 日本機械学会, Nov. 2021.
• 皆川 開, 大熊 学, 田中 諭, 垣澤 英樹, 若井 史博, 井上 遼. 熱間等方加圧（HIP）による欠陥収縮過程の放射光X線CT観察, 日本機械学会第 29 回機械材料・材料加工技術講演会(M&P2021), 一般社団法人 日本機械学会, Nov. 2021.
• 大熊 学, 若井 史博. 放射線X線CTによる電子デバイスの信頼性解析:MLCCの電極構造形成プロセス, 耐熱複合材料・コーティングの高度化に関する研究会 第4回ワークショップ, Nov. 2021.
• 大熊 学, 若井 史博. 金属膜の自由焼結および拘束焼結中の異方的な微細構造進展と粗大化プロセスのFIB-SEMトモグラフィー解析, 2021年度秋季大会 (第128回講演大会) 粉末冶金協会, Nov. 2021.
• 大熊 学, 若井 史博. 高信頼性材料設計のための 放射光X線CT3次元ナノスケール解析, 日本セラミックス協会 第34回秋季シンポジウム, Sept. 2021.
• 大熊 学. 放射光X線マルチスケールCTで見る焼結プロセスにおける欠陥形成と強度信頼性, 日本物理学会 第31回格子欠陥フォーラム, Sept. 2021.
• 大熊 学. 高信頼性材料設計のための放射光X線CT3次元ナノスケール解析, 第6回全固体電池MOP講習会, Sept. 2021.
• 大熊 学, 斎藤 直哉, 水野 高太郎, 若井 史博. 放射光X線ナノCTによる電子デバイスの信頼性解析：MLCCの電極構造形成プロセス, 日本金属学会 2021年秋期(第169回)講演大会, Sept. 2021.
• 大熊 学, 齋藤 直哉, 若井 史博, 水野 高太郎. 結像型X線ナノCTによる電子デバイスの信頼性解析:MLCCの電極構造形成プロセス, 日本セラミックス協会 2021年年会, Mar. 2021.
• 遠藤 順也, 大熊 学, 若井 史博. 加圧焼結によるアルミナ焼結体中の内部欠陥収縮過程の放射光X線CT観察, 日本セラミックス協会 2021年年会, Mar. 2021.
• 大熊 学, 斉藤 直哉, 若井 史博, 竹内 晃久, 上杉 健太朗, 水野 高太郎, 岩崎 誉志紀, 岸 弘志. 放射光X線ナノCTによる電子デバイスの信頼性解析~MLCCの電極構造形成プロセス~, バルクセラミックスの信頼性に関するワークショップ, Jan. 2021.
• 斉藤 直哉, 大熊 学, 水野 高太郎, 岩崎 誉志紀, 岸 弘志, 竹内 晃久, 上杉 健太朗, 若井 史博. 積層セラミックスコンデンサー(MLCC)焼成過程における電極微構造変化の放射光X線ナノCT観察, 第59回セラミックス基礎科学討論会, Jan. 2021.

その他の論文・著書など

• 大熊学, 斉藤直哉, 水野高太郎, 若井史博. 放射光X線ナノCTによる電子デバイスの信頼性解析 ー MLCCの電極構造形成プロセスー, セラミックス, 日本セラミックス協会, Vol. 56, 1, 39-43, Jan. 2021.

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