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上薗巧 2009年 研究業績一覧 (7件 / 20件)
論文
国際会議発表 (査読有り)
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Michihiro Shintani,
Takumi Uezono,
Tomoyuki Takahashi,
Hiroyuki Ueyama,
Takashi Sato,
Kasumi Hatayama,
Takashi Aikyo,
Kazuya Masu.
An Adaptive Test for Parametric Faults Based on Statistical Timing Information,
IEEE Asian Test Symposium,
IEEE Asian Test Symposium,
IEEE Asian Test Symposium,
pp. 151-156,
Nov. 2009.
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Tomoyuki Takahashi,
Takumi Uezono,
Michihiro Shintani,
Kazuya Masu,
Takashi Sato.
On-die parameter extraction from path-delay measurements,
2009 IEEE Asian Solid-State Circuits Conference,
2009 IEEE Asian Solid-State Circuits Conference,
IEEE Asian Solid-State Circuits Conference,
pp. 101 - 104,
Nov. 2009.
国内会議発表 (査読有り)
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伊達貴徳,
萩原 汐,
上薗 巧,
佐藤高史,
益 一哉.
SRAM回路の構造的対称性を考慮した2段階学習型重点的サンプリング,
VLSI設計技術研究会 システム設計及び一般,
VLSI設計技術研究会 システム設計及び一般,信学技報,
VLSI設計技術研究会 システム設計及び一般,
vol. 109,
no. 34,
pp. 37-42,
May 2009.
国内会議発表 (査読なし・不明)
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高橋知之,
上薗巧,
越智裕之,
益一哉,
佐藤高史.
パス遅延測定によるチップ特性の推定手法,
DAシンポジウム,
DAシンポジウム,
DAシンポジウム,
pp. 133-138,
Aug. 2009.
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上薗 巧,
高橋 知之,
植山 寛之,
新谷 道広,
佐藤 高史,
益 一哉.
適応型テストにおけるクリティカルパスのクラスタリング手法,
2009 年 電子情報通信学会総合大会,
2009 年 電子情報通信学会総合大会,
電子情報通信学会,
D-10-17,
p. 160,
Mar. 2009.
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新谷 道広,
高橋 知之,
植山 寛之,
上薗 巧,
佐藤 高史,
畠山 一実,
相京 隆,
益 一哉.
統計的タイミング情報に基づく適応型テスト,
2009 年 電子情報通信学会総合大会,
D-10-16,
Mar. 2009.
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