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藤井正明 2011年 研究業績一覧 (7件 / 412件)
論文
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Shiota, D.,
Tadokoro, Y.,
Noda, K.,
Shida, M.,
Masaaki Fujii.
Development of low reflectivity and high resolution negative-tone photoresist,
Journal of Photopolymer Science and Technology,
Vol. 24,
No. 4,
pp. 397-400,
2011.
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Shiota, D.,
Tadokoro, Y.,
Noda, K.,
Shida, M.,
Masaaki Fujii.
Photopolymerization analysis by isomerization for oxime derivatives,
Journal of Photopolymer Science and Technology,
Vol. 24,
No. 6,
pp. 625-629,
2011.
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Schmies, M.,
Patzer, A.,
Masaaki Fujii,
Dopfer, O..
Structures and IR/UV spectra of neutral and ionic phenol-Arncluster isomers (n ≤ 4): Competition between hydrogen bonding and stacking,
Physical Chemistry Chemical Physics,
Vol. 13,
No. 31,
pp. 13926-13941,
2011.
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Armentano, A.,
Tong, X.,
Riese, M.,
Pimblott, S.M.,
Müller-Dethlefs, K.,
Masaaki Fujii,
Dopfer, O..
Mass analyzed threshold ionization spectra of phenol…Ar2: Ionization energy and cation intermolecular vibrational frequencies,
Physical Chemistry Chemical Physics,
Vol. 13,
No. 13,
pp. 6071-6076,
2011.
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Yamada, H.,
Misawa, K.,
Suzuki, D.,
Tanaka, K.,
Matsumoto, J.,
Masaaki Fujii,
Tanaka, K..
Detailed analysis of diesel vehicle exhaust emissions: Nitrogen oxides, hydrocarbons and particulate size distributions,
Proceedings of the Combustion Institute,
Vol. 33,
No. 2,
pp. 2895-2902,
2011.
その他の論文・著書など
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藤井正明,
坂本 哲夫.
収束イオンビームとレーザーイオン化法を用いた環境汚染微粒子の履歴解析,
光学,
応用物理学会分科会日本光学会,
Vol. 40,
No. 5,
pp. 232-234,
May 2011.
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藤井正明,
宮崎 充彦,
斎川 次郎,
石月 秀貴,
平等 拓範.
高出力赤外波長可変レーザーの分子計測への応用,
電気学会研究会資料. OQD, 光・量子デバイス研究会,
Vol. 2011,
No. 18,
pp. 7-8,
Mar. 2011.
特許など
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藤井正明,
坂本 哲夫,
藤岡 幸平,
柏木 隆宏.
イオンビーム照射位置決め装置.
特許.
公開.
国立大学法人東京工業大学, 学校法人工学院大学, 株式会社トヤマ.
2010/04/23.
特願2010-099870.
2011/11/17.
特開2011-233249.
2011.
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藤井正明,
坂本 哲夫.
レーザイオン化質量分析装置.
特許.
公開.
国立大学法人東京工業大学, 学校法人工学院大学.
2010/04/23.
特願2010-099869.
2011/11/17.
特開2011-233248.
2011.
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藤井正明,
石内俊一,
ウッドワード・ジョナサン,
渡邊 裕一.
真空紫外光発生装置.
特許.
公開.
国立大学法人東京工業大学.
2010/03/25.
特願2010-070306.
2011/10/13.
特開2011-204882.
2011.
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藤井正明,
石内俊一,
坂本 哲夫,
林 俊一.
集束イオンビームを用いる微細部位解析装置.
特許.
登録.
国立大学法人東京工業大学, 新日本製鐵株式会社.
2006/08/03.
特願2006-212399.
2008/02/21.
特開2008-039521.
特許第4785193号.
2011/07/22
2011.
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藤井正明,
石内俊一,
坂本 哲夫,
林 俊一.
イオン化分析装置及びイオン化分析方法.
特許.
登録.
国立大学法人東京工業大学, 新日本製鐵株式会社.
2006/06/09.
特願2006-161691.
2007/12/20.
特開2007-327929.
特許第4761378号.
2011/06/17
2011.
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